Blank Cover Image
QRコード(所蔵情報)

Micron : the international journal of electron microscopy, electron probe micro-analysis & associated techniques

フォーマット:
雑誌
出版情報:
London : Structural Pub., 1969-1983
巻次(年次):
Vol. 1 (1969)-v. 14, no. 2 (1983)
継続後誌:
Micron and microscopica acta <AA10637724>
書誌ID:
AA00738441
ISSN:
00477206  CiNii Research  Webcat Plus  JAIRO
子書誌情報
Loading
所蔵情報
Loading availability information
タイトル・著者・出版者が同じ資料

類似資料:

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12
 

Pease, Daniel C. (Daniel Chapin), 1914-

Academic Press

Koehler, James K., 1933-, Bullivant, S.

Springer-Verlag

Pease, Daniel C. (Daniel Chapin), 1914-

Academic Press

Scribner, Bourdon F.

U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology

Goodhew, Peter J.

Wykeham, Springer-Verlag

日本電子顕微鏡学会

Japanese Society of Electron Microscopy

日本臨床電子顕微鏡学会

Clinical Electron Microscopy Society of Japan

5 電子ジャーナル Journal of electron microscopy

OUP

Hayat, M. A., 1936-

Van Nostrand Reinhold

Parsons, Donald Frederick, 1928-, Banfield, William G., 1920-

Academic Press

Hayat, M. A., 1936-

Van Nostrand Reinhold Co