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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces. Rev. ed
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- Dror Sarid
- 言語:
- 英語
- 出版情報:
- New York : Oxford University Press, 1994
- 形態:
- xiii, 263 p. : ill. ; 25 cm
- 著者名:
- Sarid, Dror <DA05725022>
- シリーズ名:
- Oxford series in optical and imaging sciences ; 5 <BA12878548>
- 書誌ID:
- BA23626966
- ISBN:
- 9780195092042 [019509204X]
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