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超精密計測がひらく世界 : 高精度計測が生み出す新しい物理

フォーマット:
図書
責任表示:
計量研究所編
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 講談社, 1998.5
形態:
331, 19p ; 18cm
著者名:
工業技術院計量研究所 <DA01436646>  
シリーズ名:
ブルーバックス ; B-1215 <BN00081030>
書誌ID:
BA35775114
ISBN:
9784062572156 [406257215X]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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