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JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

フォーマット:
図書
責任表示:
坂巻佳壽美著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : CQ出版, 1998.12
形態:
182p ; 21cm
著者名:
坂巻, 佳寿美(1950-) <DA01643072>  
シリーズ名:
I/F essence <BN02166189>
書誌ID:
BA39259718
ISBN:
9784789836821 [4789836827]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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工業調査会