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Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- A. Foster, W. Hofer
- 言語:
- 英語
- 出版情報:
- Berlin : Springer, c2006
- 形態:
- xiv, 281 p. : ill. ; 24 cm
- 著者名:
- シリーズ名:
- Nanoscience and technology <BA33734375>
- 書誌ID:
- BA77975040
- ISSN:
- 14344904
- ISBN:
- 9780387400907 [0387400907]
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