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Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents

フォーマット:
図書
責任表示:
A. Foster, W. Hofer
言語:
英語
出版情報:
Berlin : Springer, c2006
形態:
xiv, 281 p. : ill. ; 24 cm
著者名:
シリーズ名:
Nanoscience and technology <BA33734375>
書誌ID:
BA77975040
ISSN:
14344904  CiNii Research  Webcat Plus  JAIRO
ISBN:
9780387400907 [0387400907]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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