>> Google Books
QRコード(所蔵情報)

Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces

フォーマット:
図書
責任表示:
G. Kaupp
言語:
英語
出版情報:
Berlin : Springer, c2006
形態:
xii, 292 p. ; 24 cm
著者名:
Kaupp, G. (Gerd) <DA15636574>  
シリーズ名:
Nanoscience and technology <BA33734375>
書誌ID:
BA78008037
ISBN:
9783540284055 [3540284052]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
9783642066634 [3642066631] (: pbk)  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
子書誌情報
Loading
所蔵情報
Loading availability information

類似資料:

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12