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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

フォーマット:
図書
責任表示:
二川清著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 工業調査会, 2007.11
形態:
221p, 図版[7]p : 挿図 ; 22cm
著者名:
二川, 清(1949-) <DA07045335>  
書誌ID:
BA84153482
ISBN:
9784769312697 [4769312695]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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