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表面・界面の分析と評価

フォーマット:
図書
責任表示:
平木昭夫, 成沢忠共著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : オーム社, 1994.9
形態:
ix, 141p ; 22cm
著者名:
シリーズ名:
応用物理学シリーズ / 応用物理学会編 ; 専門コース <BN03224101>
書誌ID:
BN11291090
ISBN:
9784274129766 [4274129764]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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1 図書 表面の物理学

Zangwill, Andrew, 平木, 昭夫

日刊工業新聞社
7 図書 表面・界面

黒田, 晴雄(1931-), 朝倉, 清高, 岩澤, 康裕(1946-), 妹尾, 学(1930-), 日本化学会

丸善
2 図書 表面電子工学

菅野, 卓雄(1931-), 御子柴, 宣夫(1930-), 平木, 昭夫

コロナ社
8 図書 高分子の表面・界面

加藤, 忠哉

共立出版
3 図書 表面界面の超精密創成・評価技術

日本学術振興会結晶加工と評価技術第145委員会, 松永, 正久

サイエンスフォーラム
9 図書 看護理論の分析と評価

Fawcett, Jacqueline, 太田, 喜久子, 筒井, 真優美

医学書院
4 図書 表面界面の物理

笠井, 秀明(1952-), 坂上, 護

朝倉書店
10 図書 表面・界面技術ハンドブック : 材料創製・分析・評価の最新技術から先端産業への適用、環境配慮まで

高原, 淳, 臼杵, 有光, 西, 敏夫(1942-), 川崎, 雅司, 栗原, 和枝, 土井, 正男, 中嶋, 健, 藤岡, 洋, 由井, 伸彦

エヌ・ティー・エス
5 図書 半導体材料の欠陥評価技術 : GaAs基板評価・Si MOS界面評価

サイエンスフォーラム
11 図書 表面・界面の電子状態

小間, 篤

丸善
6 図書 表面・界面

日本化学会, 谷口, 功, 山田, 太郎, 有賀, 哲也

丸善
12 図書 薄膜・表面物理セミナー

応用物理学会薄膜・表面物理分科会セミナー委員会

応用物理学会