無機/有機ヘテロ界面制御による逆型有機薄膜太陽電池の性能劣化解析と高耐久化

フォーマット:

論文

責任表示:

桑原, 貴之 ; Kuwabara, Takayuki

言語:

日本語

出版情報:

金沢大学理工研究域物質化学系, 2012-05-14

著者名:

• 桑原, 貴之
• Kuwabara, Takayuki

掲載情報:

平成23(2011)年度 科学研究費補助金 若手研究(A) 研究成果報告書 = 2011 Fiscal Year Final Research Report

巻:

2009-2011

開始ページ:

5p.

バージョン:

author

概要:

本研究は逆構造素子による有機薄膜太陽電池の性能劣化解析と高耐久化を目的としている。交流インピーダンス法、キャリア移動度測定、表面AFM測定などを組み合わせて、太陽電池の性能劣化因子の解明を行った結果、n型半導体/PCBM界面に加えて、PCBM : P3HT発電層バルク中におけるモロフォロジー変化が有機薄膜太陽電池の性能低下に起因していることを見出した。この劣化解析を基に作製した逆構造素子において、未封止・大気中で100時間の連続駆動でもほとんど性能が劣化しない高耐久素子の開発 … にも成功した。さらに素子を封止することによって、フィールド試験において1年以上の連続駆動において95%以上の性能保持が確認できた。<br />In this research, we aim to analysis the degradation mechanism for inverted polymer solar cells and to fabricate the high durable polymer solar cell in air.The relationship between the morphology of a P3HT : PCBM photoactive layer and performance of its bulk-heterojunction polymer solar cells was investigated. AC impedance spectroscopy, carrier mobility measurements and AFM observation of the photoactive layer surface revealed that the degradation of the polymer solar cell was caused by the initial well-connected network within the P3HT : PCBM layer changing to a morphology. Following this result, we achieved to fabricate the high durable polymer solar cell which almost maintains the maximum PCE under continuous light irradiation for 100 h in air. In addition, the performance of the sealed cells was almost constant in open field test for 1 year under continuous light irradiation. 続きを見る

URL:

http://hdl.handle.net/2297/00049916