金沢大学附属図書館 OPAC plus

論文

1. 振動解析における大振幅·位相測定への波長変調応用

田中, 隆尚 ; 安達, 正明 ; Tanaka, Takanao ; Adachi, Masaaki

出版情報:	精密工学会学術講演会講演論文集 = 2004 JSPE Autumn Meeting. 2004 Autumn pp.1087-1088, 精密工学会 = The Japan Society for Precision Engineering
URL:	http://hdl.handle.net/2297/00052911

概要: 金沢大学理工研究域機械工学系 変位・変形・振動は各分野において基本的な計測量であり、多様な計測法が開発されてきた。特に光学的手法による計測法は、非接触で高感度に測定ができることから注目を集めている。本研究では、スペックル干渉を用い … た振動測定における「振動振幅の増加に伴う物体像再生強度の低下」、「振動の位相が分からない点」を改善すべき問題点に取り上げ、半導体レーザーの波長可変性を利用した対策を提案する。 出版者照会後に全文公開続きを見る

論文

2. 電子スペックル干渉法による二次元振動モード測定における「大振幅低周波数振動成分の除去」に関する研究

並木, 太郎 ; 安達, 正明 ; Namiki, Taro ; Adachi, Masaaki

出版情報:	精密工学会学術講演会講演論文集 = 2004 JSPE Autumn Meeting. 2004 Autumn pp.1091-1092, 精密工学会 = The Japan Society for Precision Engineering
URL:	http://hdl.handle.net/2297/00052929

概要: 金沢大学理工研究域機械工学系 機械の振動には、1種の振動だけでなく1～50Hz程度の大振幅振動と1kHz程度の微小振幅振動が混合したものがある。このような振動において、微小振幅振動の振幅分布を調べようとしても、大振幅振動の影響で振 … 幅が調べられなかった。よって、本研究では、このような混合振動において、カメラのシャッター時間を通常よりも短くすることで、大振幅振動の影響を受けずに微小振幅振動の振幅分布を求める方法の開発を行った。 In the manufucturing process, motion of machines sometimes generates high-frequency sound. So it is required to suppress high-frequency vibration in working machines. In this research, we try to develop how to measure vibration-mode of high-frequency vibration in machine which small-amplitude and high-frequency and large-amplitude and low-frequency. 出版者照会後に全文公開続きを見る

論文

3. 振動下でも使用できる超高精度3次元形状計測技術の開発

安達, 正明

出版情報:	平成23(2011)年度科学研究費補助金基盤研究(B) 研究成果報告書 = 2011 Fiscal Year Final Research Report. 2009-2011 pp.6p.-, 2012-04-04. 金沢大学機械工学系
URL:	http://hdl.handle.net/2297/48183

概要: 振動下にある垂直走査型干渉計の光路差変化をレーザでリアルタイムかつ高速高精度に計測する手法を開発し,変化情報を基に一定の位相変化終了後毎にLED光を瞬間点灯させ干渉縞を撮影した.この手法で計測した形状結果を分析しさらなる高精度化には点灯 & … 露光中に加わる振動もその影響を補正する必要を見出し,露光中の光路差変化履歴を基に振動影響を補正して位相を抽出する方法も開発し,その効果を実験で確認した. We have developed a new measurement technique for nm-level change of an optical-path-deference(OPD) using laser. This technique can measure OPD of a vertical-scan interference microscope real time and high speed. With the technique we can trigger LED flashings and interferogram exposures right after predefined phase changes even under vertical vibrations. Analyzing the measured 3D-shape obtained with the technique results in that affects of vibration during the exposure should be corrected for higher precision shape measurement. Then we have developed another technique which can extract interference phase just on the exposure-start moment from vibration-affected interferogram intensities and history of OPD changes during the exposure. Validity of the developed technique is proved by experiments using the vertical-scan interference microscope with intentionally generated pulse-like vibration. 研究課題/領域番号:21360115, 研究期間(年度):2009–2011 続きを見る

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