1.

図書
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1. Practical residual stress measurement methods
edited by Gary S. Schajer, University of British Columbia, Vancouver, Canada
出版情報: Chichester, West Sussex, United Kingdom : John Wiley & Sons Inc., 2013
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2.

図書
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2. Introduction to contact mechanics. 2nd ed
Anthony C. Fischer-Cripps
出版情報: New York : Springer, c2007
シリーズ名: Mechanical engineering series
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3.

図書
図書
3. Two-dimensional X-ray diffraction
Bob B. He
出版情報: Hoboken, N.J. : Wiley, c2009
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4.

図書
図書
4. Optically stimulated luminescence : fundamentals and applications
Eduardo G. Yukihara and Stephen W.S. McKeever
出版情報: Chichester, West Sussex, UK : John Wiley & Sons, 2011
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5.

図書
図書
5. Program system ODF - analysis for cubic crystal symmetry, orthorhombic sample symmetry. 1. Aufl.
ed. by H. J. Bunge ; authors, E. Dahlem-Klein, H. Klein, N. J. Park
出版情報: Göttingen : Cuvillier, 1993
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6.

図書
図書
6. Vectors and tensors in crystallography. Dover ed
Donald E. Sands
出版情報: New York : Dover Publications, 1995, c1982
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7.

図書
図書
7. The basics of crystallography and diffraction
Christopher Hammond
出版情報: New York : Oxford University Press, 1997
シリーズ名: International Union of Crystallography texts on crystallography ; 3
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8.

図書
図書
8. Introduction to X-ray powder diffractometry
Ron Jenkins, Robert L. Snyder
出版情報: New York : J. Wiley, c1996
シリーズ名: Chemical analysis ; v. 138
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9.

図書
図書
9. X-ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals. 2nd ed
Duane M. Moore, Robert C. Reynolds, Jr
出版情報: New York : Oxford University Press, 1997
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10.

図書
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10. Continuum models for materials with microstructure
edited by H.-B. Mühlhaus
出版情報: Chichester : Wiley, c1995
シリーズ名: Wiley series in materials, modelling and computation
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