1.

図書
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1. はじめてのデバイス評価技術. 第2版
二川清著
出版情報: 東京 : 森北出版, 2012.9
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2.

図書
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2. 半導体デバイスの不良・故障解析技術
二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著
出版情報: 東京 : 日科技連出版社, 2019.12
シリーズ名: 信頼性技術叢書
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3.

図書
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3. LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
二川清著
出版情報: 東京 : 工業調査会, 2007.11
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