※一部利用できない機能があります
| 1.
図書 |
図書
|
研究代表者 安達正明
|
||||||
| 2.
図書 |
図書
|
研究代表者 安達正明
|
||||||
| 3.
論文 |
論文
|
田中, 隆尚 ; 安達, 正明 ; Tanaka, Takanao ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />変位・変形・振動は各分野において基本的な計測量であり、多様な計測法が開発されてきた。特に光学的手法による計測法は、非接触で高感度に測定ができることから注目を集めている。本研究では、スペックル干渉を用い
…
た振動測定における「振動振幅の増加に伴う物体像再生強度の低下」、「振動の位相が分からない点」を改善すべき問題点に取り上げ、半導体レーザーの波長可変性を利用した対策を提案する。<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 4.
論文 |
論文
|
藤本, 健太 ; 安達, 正明 ; Fujimoto, Kenta ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />白色干渉顕微鏡を用いる3次元形状計測法では,測定対象物と光源との距離の変化を正確に知る必要がある.そこで我々は,レーザーを2分割し,一方を測定対象物に照射し,もう一方を参照光として用い,その干渉光の変
…
化から移動量を正確に求める方法の開発を目指した.<br />With white light interferometry interference peak, envelope peak, is used to identify as zero–position of an optical path difference. To measure 3–D shape of an object with the interferometry scanned z–length of a reference mirror must be measured and be used for height calculation. We propose a laser displacement meter which would be able to measure z–displacement of the mirror from the object and be built in an interference microscope. As an optical axis of the meter can be adjusted to be same as that of the interference microscope, the Abbe error does not arise. Beside, vertical vibration of the object would not make error. Phase information have been extracted from intensity change of interfered laser light and used to calculate the scanned length of the mirror.<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 5.
論文 |
論文
|
並木, 太郎 ; 安達, 正明 ; Namiki, Taro ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />機械の振動には、1種の振動だけでなく1～50Hz程度の大振幅振動と1kHz程度の微小振幅振動が混合したものがある。このような振動において、微小振幅振動の振幅分布を調べようとしても、大振幅振動の影響で振
…
幅が調べられなかった。よって、本研究では、このような混合振動において、カメラのシャッター時間を通常よりも短くすることで、大振幅振動の影響を受けずに微小振幅振動の振幅分布を求める方法の開発を行った。<br />In the manufucturing process, motion of machines sometimes generates high-frequency sound. So it is required to suppress high-frequency vibration in working machines. In this research, we try to develop how to measure vibration-mode of high-frequency vibration in machine which small-amplitude and high-frequency and large-amplitude and low-frequency.<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 6.
論文 |
論文
|
安達, 正明 ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />激しい光路差変動の残る状況下で使える，波長シフト干渉計を用いる粗面の３次元形状計測法を開発している．これまで高温のドライヤー風を吹き付ける状況下での形状計測結果を報告してきた．今回は，通電し温度が上が
…
りつつあるハンダごての形状を風を吹き付けないで測定した．干渉像の位相抽出のための位相シフト量計算を行う空間サイズの効果が確認できた．<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 7.
論文 |
論文
|
橋本, 康弘 ; 安達, 正明 ; Hashimoto, Yasuhiro ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />現在,非接触性,高感度性などの様々な利点からレーザを用いた光干渉応用計測技術が注目されているが、光干渉応用変形測定では光路差のサブミクロンオーダーの正確な制御が必要であり,振動や風等の影響を受ける通常
…
の環境下での応用はこれまで難しかった.本研究ではDSPI法に二波長レーザと共通光路干渉計を組み合わせて,突発変形に耐えうることのでき,さらには外乱の影響を受けにくい高精度変形測定法の開発を目的とした.<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 8.
論文 |
論文
|
安達, 正明 ; 高山, 稔 ; Adachi, Masaaki ; Takayama, Minoru
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />スペックル干渉計を用いると変形中の粗面に関して、2次元的変形分布の時間変化をサブミクロンオーダーで調べることができる。そこで、我々は変形挙動が複雑とされるジュラルミン薄板を引張り、その干渉像を高速デジ
…
タルカメラで連続取り込みし、これまでに開発してきた解析方法で干渉位相の変化量を求め変形量を高精度に測定してみた。この測定結果に関して報告する。<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 9.
論文 |
論文
|
安達, 正明 ; 上田, 覚児 ; 五十島, 一興 ; Adachi, Masaaki ; Ueda, Kakuji ; Isojima, Kazuoki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />白色干渉垂直走査型形状測定法では,干渉像の「位相とコントラスト情報」から光路差を抽出する.取込む画像毎の位相シフト量をπ/2 とするため、深い凹凸の測定には時間がかかった.そこで我々は青と黄色のLED
…
を交互に点灯させ、青では位相シフト量が6π+π/2、黄色では6π-π/2となるようにし,干渉像を通常のCCD カメラで取込んで高速に形状測定をする方法を研究してきた.この方法の絶対精度に関してして報告する.<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
||||||
| 10.
論文 |
論文
|
五十島, 一興 ; 安達, 正明 ; 斎藤, 潤二 ; 嶋, 一史 ; 中山, 彰 ; 山宮, 広之 ; 小林, 友博 ; 杉森, 博 ; 谷, 浩之 ; Isojima, Kazuoki ; Saitoh, Junji ; Shima, Kazufumi ; Nakayama, Akira ; Adachi, Masaaki
概要:
金沢大学理工研究域機械工学系<br />白色干渉を応用した三次元形状計測装置を開発した.測定法は,物体と参照鏡が作る干渉縞の位相とコントラストから形状を高精度に算出する位相シフト法を用い,位相シフト量を2n π±π /2(n:自然数)とする
…
ことにより,高速化を実現した.光源として波長の異なる2つのLEDを使用し,交互に点灯させそれぞれの波長の干渉像を取り込み,取り込んだ画像から形状を測定する.また,高精度で長ストロークな移動ステージを搭載することにより,高速・高精度な形状測定を目指す.<br />出版者照会後に全文公開
続きを見る
|
