著者典拠情報

標目形：
Mayer, James W., 1930-
属性：
Personal
日付：
1930
から見よ参照形：
メイヤー, J. W.
注記：
Feldman, L.C. Fundamentals of surface and thin film analysis, c1986
著者典拠ID：
DA00601973


1.

図書
図書
1. Ion implantation in semiconductors : silicon and germanium
[by] James W. Mayer, Lennart Eriksson and John A. Davies
出版情報: New York : Academic Press, 1970
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2.

図書
図書
2. Thin films : interdiffusion and reactions
edited by J.M. Poate, K.N. Tu, J.W. Mayer ; sponsored by the Electrochemical Society, inc
出版情報: New York : Wiley, c1978
シリーズ名: The Electrochemical Society series
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3.

図書
図書
3. 表面と薄膜分析技術の基礎
L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳
出版情報: 東京 : 海文堂, 1989.6
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