LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー | 金沢大学附属図書館 OPAC plus

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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

フォーマット:: 図書
責任表示:: 二川清著
言語:: 日本語
出版情報:: 東京 : 工業調査会, 2007.11
形態:: 221p, 図版[7]p : 挿図 ; 22cm
著者名:: 二川, 清(1949-) <DA07045335>
書誌ID:: BA84153482
ISBN:: 9784769312697 [4769312695]

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タイトル・著者・出版者が同じ資料

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その他の標題:	LSI failure analysis LSI故障解析技術のすべて : 開発促進歩留向上信頼性向上のキーテクノロジー
主題:	集積回路
分類・件名:	NDC8 : 549.7 NDC9 : 549.7 BSH : 集積回路
注記:	参考文献: p[205]-214
タイトルのヨミ、その他のヨミ:	LSI コショウカイセキギジュツノスベテ : カイハツソクシンブドマリコウジョウシンライセイコウジョウノキーテクノロジー
その他のタイトルのヨミ、その他のヨミ:	エルエスアイコショウカイセキギジュツノスベテ : カイハツソクシンブドマリコウジョウシンライセイコウジョウノキーテクノロジー
TTLL:	jpn
著者名ヨミ:	ニカワ, キヨシ

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